上海千实解读《场所监测用固定式X、γ辐射剂量率监测仪校准规范》

　　上海千实精密机电科技有限公司：由上海市计量测试技术研究院联合北京市计量检测科学研究院、中国辐射防护研究院的《场所监测用固定式X、γ辐射剂量率监测仪校准规范》已完成征求意见稿，现公开征求意见。

　　场所监测用固定式X、γ辐射剂量率监测仪广泛应用于众多核技术利用场所，尤其是工业与医学辐照场所的辐射报警、剂量联锁，是用于辐射防护及辐射安全监管的常用辐射监测仪器之一。场所监测用固定式X、γ辐射剂量率监测仪国内外生产厂家众多，产品类型、规格、性能各异，现行的相关国家标准为GB/T 14054-2013 辐射防护仪器 能量在50keV~7MeV的X和γ辐射固定式剂量率仪、报警装置和监测仪，尚无相应的计量技术规范，长期以来其性能检测、计量校准主要参照JJG393-2003 辐射防护用X、γ辐射剂量当量(率)仪和监测仪检定规程 / JJG393-2018 便携式X、γ辐射周围剂量当量(率)仪和监测仪检定规程。

　　然而，JJG393的适用范围不包括场所监测用固定式X、γ辐射剂量率监测仪，并且便携式X、γ辐射周围剂量当量(率)仪和监测仪用于辐射源(装置)以及工作场所中关注点周围剂量当量率的监测，场所监测用固定式X、γ辐射剂量率监测仪用于对所在位置处剂量当量率变化的监测。源于两者实际用途不同，对于其性能特性的要求有着明显的差异，所以有必要针对场所监测用固定式X、γ辐射剂量率监测仪起草制定计量校准规范，保障其性能可靠，促进产品技术进步，更好的适应辐射安全监管的要求。

　　本规范按照JJF 1071-2010《国家计量校准规范编写规则》编写。本规范的编制主要参考GB/T14054-2013 《辐射防护仪器 能量在50keV~7MeV的X和γ辐射固定式剂量率仪、报警装置和监测仪》， IEC 60532-2010《Radiation protection instrumentation - Installed dose rate meters, warning assemblies and monitors - X and gamma radiation of energy between 50 keV and 7 MeV》，ISO 4037-1-2019《Radiological protection — X and gamma reference radiation for calibrating dosemeters and doserate meters and for determining their response as a function of photon energy》Part 1:Radiation characteristics and production methods、Part 2:Dosimetry for radiation protection over the energy ranges from 8 keV to 1,3 MeV and 4 MeV to 9 MeV、Part 3:Calibration of area and personal dosemeters and the measurement of their response as a function of energy and angle of incidence、Part 4:Calibration of area and personal dosemeters in low energy X reference radiation fields，IEC 60532-2010《Radiation protection instrumentation - Installed dose rate meters, warning assemblies and monitors - X and gamma radiation of energy between 50 keV and 7 MeV》等技术标准。

　　按照JJF 1071-2010《国家计量校准规范编写规则》，本规范主要内容包括：范围；引用文件；术语和计量单位；概述；校准条件；校准项目和校准方法；校准结果表达；复校时间间隔以及附录等内容。

　　校准环境条件：

　　1.温度：(15~25)℃。2.相对湿度： 30%~75%。2.气压：(80~106)kPa。4.校准时不应有影响使用的振动和电磁场干扰。

　　测量设备：

　　(1)定位装置。借助于光学准直系统和测距装置，能在辐射场中将标准剂量仪和被检仪器准确定位于测量点，并测定源至探测器的距离。

　　(2)温度计。测量范围(0～50)℃，小分度值不大于0.2℃。

　　(3)气压计。测量范围至少覆盖(86～106)kPa，小分度值不大于0.1kPa 。

　　校准项目和校准方法：

　　新生产的场所监测用固定式X、γ辐射剂量率监测仪应在辐射剂量学实验室进行校准，已安装在用但易于拆卸的固定式X、γ辐射剂量率监测仪宜在辐射剂量学实验室进行校准，校准项目包括低剂量当量(率)响应、高剂量当量(率)响应、重复性和报警响应。

　　已安装在用不便拆卸的固定式X、γ辐射剂量率监测仪可作现场校准，校准项目包括但不限于低剂量当量(率)响应和报警响应。

　　校准结果表达：

　　按本规范进行校准，出具校准证书，校准证书内页格式见附录C、附录D；校准结果应给出剂量当量(率)响应测量结果的不确定度(评定示例见附录E、附录F)。

　　复校时间间隔

　　建议复校时间间隔为12个月。由于复校时间间隔的长短是由仪器的使用情况、使用者、仪器本身质量等多种因素所决定的，因此，送校单位可根据实际使用情况自主确定复校时间间隔。

　　本规范适用于能量范围为80keV~1.5MeV的场所监测用固定式X、γ辐射剂量率监测仪(装置)的校准。本规范不适用于便携式X、γ辐射剂量当量率仪和X、γ辐射空气比释动能率仪的校准。

2023-03-10 00:00